半導体性能試験 | プリント基板株式会社

基礎情報

HSコード	8015809090
生産能力	200個/年個/年

製品説明

---半導体の性能試験
---半導体熱試験装置

機能と利点
チップ、モジュール、集積回路基板、電子部品に正確かつ高速な周囲温度 (-120°C ～ +300°C) を提供します。製品の電気的性能試験、故障解析、信頼性評価には欠かせないツールです。半導体企業、航空宇宙、光通信、大学、研究機関などの分野で幅広く使用されています。

従来のサーモスタットと比較して、いくつかの特徴があります。

1. 温度範囲: -120 °C ~ +300 °C;2. 温度の上昇と下降が非常に速く、-55°C ～ 150°C< 10 Sekunden;3. Genauigkeit der Temperaturregelung: ±1 °C;4. Temperatureinstellung: ±0,1 °C;5. Temperaturanzeigefähigkeit: ±0,1 °C;6. Maximaler Luftstrom: 25 m3/h;7. Echtzeitüberwachung der tatsächlichen Temperatur des zu testenden ICs, um eine Rückkopplung im geschlossenen Regelkreis zu erreichen und die Gastemperatur in Echtzeit anzupassen; 8. Die Temperaturanstiegs- und -abfallzeit ist steuerbar, programmierbarer Betrieb, manueller Betrieb und Fernbedienung.

Performance Testing of Semiconductor

製品パラメータ

モデル	MD-4535W	MD-6035W	MD-8035W	MD-A1035W	MD-A1235W
温度範囲	-45～225℃	-60～225℃	-80～225℃	-100～225℃	-120～225℃
加熱出力(KW)	3	3	3	4	4.5
温度制御精度	±0.5℃	±0.5℃	±1℃	±1℃	±1℃
温度換算時間	-25℃～150℃ 約10秒 150℃～-25℃ 20代くらい	-45℃～150℃ 約10秒 150℃～-45℃ 20代くらい	-55℃～150℃ 約10秒 150℃～-55℃ 約15秒	-70℃～150℃ 約10秒 150℃～-70℃ 20代くらい	-80℃～150℃ 約11秒 150℃～-80℃ 20代くらい
空気要件	空気清浄機<5 µm, Luftölgehalt: <0,1 ppm, Lufttemperatur und Luftfeuchtigkeit: 5 °C bis 32 °C, 0 bis 50 % relative Luftfeuchtigkeit
空気処理能力	7m3/h ～ 25m3/h 圧力 5bar ～ 7.6bar
ルール	シーメンス PLC、ファジー PID 制御アルゴリズム。
温度制御	出口温度の制御
プログラム可能	10 の手順を開発でき、各プログラムは 10 のステップで構成できます。
通信プロトコル	イーサネットインターフェイス TCP/IP プロトコル。
温度フィードバック	T 温度センサー
蒸発器	二重管熱交換器
冷却アクセサリ	/ Emerson 継手 (ドライフィルター、オイルセパレーター、高圧および低圧保護、膨張弁、電磁弁)。
コントロールパネル	LNEYA カスタム 7 インチカラータッチスクリーン、温度曲線表示/Excel データエクスポート。
外部絶縁チューブ	絶縁ホースの発信を容易にする 8m DN32 クイックカップリングクランプ
金型サイズ(cm)	5469132	5469132	7573133	70100175	80120185
25℃における冷却水の量

Performance Testing of Semiconductor